菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀SurfixProS膜厚計量程：0~10mm 精度：0.1μm，見測頭參數(shù)
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機

產(chǎn)品型號：菲尼克斯Surfix Pro S
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2021-03-20
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菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀

Surfix Pro S 專業(yè)級測厚儀膜厚儀膜厚計
品牌：菲尼克斯型號：Surfix Pro S 產(chǎn)地:德國
1.強大數(shù)據(jù)處理功能.分500組存儲1萬個測值,特快反應速度
2.同屏顯示各統(tǒng)計值，配合7種測頭
3.可測鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層
4.SurfixProS膜厚計量程：0~10mm 精度：0.1μm，見測頭參數(shù)
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機
6.探頭需另選購

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀技術(shù)參數(shù)

型號	Surfix S膜厚儀
探頭連接方式	插拔式連線探頭
探頭選擇	多種探頭可選
測量范圍	根據(jù)探頭而定，zui大可達10mm
測量精度	±（1µm+ 0.7%讀數(shù)）
zui高分辨率	0.1µm
統(tǒng)計功能	平均值、標準偏差、zui大zui小值（zui高到10000個讀數(shù)）
通訊功能	可接PC機或打印機（另配紅外適配器）
zui小測量面積	5X5mm
zui小測量厚度	鐵磁性基體0.2mm 非鐵磁性基體0.05mm
尺寸、重量（不含探頭）	137mmX66mmX23mm（不含探頭）、重225g
符合標準	DIN、、ASTM、BS

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀可選探頭：

探頭型號	用途	測量范圍
FN1.5	磁感應與渦流法兩用	0～1500µm
FN0.2	磁感應與渦流法兩用	0～200µm
FN3.5	磁感應與渦流法兩用	0～3500µm
F10	磁感應法	0～10000

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